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Artec 3D, ein Entwickler von professioneller 3D-Scan-Hardware und -Software, hat eine weitreichende Partnerschaft mit dem führenden Unternehmen für Optik und Optoelektronik ZEISS geschlossen.
Gemeinsam stellen die beiden führenden Unternehmen im Bereich der 3D-Datenerfassung professionell arbeitenden Anwendern von 3D-Scannern eine Reihe von neuen Messinstrumenten zur Verfügung. Mit Hilfe einer kombinierten Inspektionslösung werden Ingenieure in die Lage versetzt, komplexere Herausforderungen in der Industrie, dem Automobilbau, der Luft- und Raumfahrt und noch in vielen anderen Bereichen zu bewältigen.
Neben ZEISS erweitert auch Artec 3D sein Angebot in einer Weise, welche die Leistung für die Kunden drastisch verbessern wird. Die Kombination der ZEISS Software mit der Software Artec Studio ermöglicht es den Anwendern, Abweichungen schneller zu beheben, Abläufe zu automatisieren, die Produktivität zu steigern und neue Standards in der Inspektion umzusetzen.
Art Yukhin, Geschäftsführer von Artec 3D, ist sich sicher, dass die Partnerschaft für beide Seiten neue Möglichkeiten eröffnen wird. „Artec 3D ist über die Partnerschaft mit ZEISS, einem ebenfalls führenden Unternehmen der Branche, sehr glücklich, denn nun können wir unseren fortgeschrittenen Anwendern noch mehr Optionen für komplexe Aufgaben bieten“, sagt er. „Wir freuen uns auf den Beginn dieser Zusammenarbeit und darauf, zu sehen, was wir noch werden erreichen können.“
Zunächst wird sich die Partnerschaft auf ZEISS INSPECT Optical 3D und ZEISS REVERSE ENGINEERING konzentrieren. Diese Software ist ideal, um schnell vom Scan zum CAD zu gelangen und sicherzustellen, dass die Produkte den jeweiligen Standards entsprechen. Sie ist jetzt direkt bei Artec 3D erhältlich und kann mit den Apps Airfoil und Tool Correction von ZEISS angepasst werden.
Dr. Marc Wawerla, Geschäftsführer von ZEISS Industrial Quality Solutions, sagt: „Wir freuen uns, mit Artec 3D zusammenzuarbeiten, um Kunden aus allen Branchen die Möglichkeit zu geben, von unserer marktführenden Expertise in metrologischer Software zu profitieren.“
